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EDS能谱仪的原理及分析方法

发布于 2022-08-25 · 浏览 8395 · IP 山东山东
这个帖子发布于 2 年零 271 天前,其中的信息可能已发生改变或有所发展。

EDS能谱仪概述:

能谱仪(EDS,Energy Dispersive Spectrometer)是用来对材料微区成分元素种类与含量分析,配合扫描电子显微镜与透射电子显微镜的使用。

EDS能谱仪原理:

EDS能谱仪,是一种分析物质元素的仪器,常与扫描电镜或者透射电镜联用,在真空室下用电子束轰击样品表面,激发物质发射出特征x射线,根据特征x射线的波长,定性与半定量分析元素周期表中B-U的元素,EDS可提供样品表面之微区定性或半定量之成份元素分析,以及特定区域之point、line scan、mapping分析。

其测试原理是:当X射线光子进入检测器后,在Si(Li)晶体内激发出一定数目的电子空穴对。产生一个空穴对的最低平均能量ε是一定的(在低温下平均为3.8ev),而由一个X射线光子造成的空穴对的数目为N=△E/ε,因此,入射X射线光子的能量越高,N就越大。利用加在晶体两端的偏压收集电子空穴对,经过前置放大器转换成电流脉冲,电流脉冲的高度取决于N的大小。电流脉冲经过主放大器转换成电压脉冲进入多道脉冲高度分析器,脉冲高度分析器按高度把脉冲分类进行计数,这样就可以描出一张X射线按能量大小分布的图谱。

EDS能谱仪的特点:

1.能快速、同时对各种试样的微区内Be-U的所有元素,元素定性、定量分析,几分钟即可完成。

2.对试样与探测器的几何位置要求低:对W.D的要求不是很严格;可以在低倍率下获得X射线扫描、面分布结果。

3.能谱所需探针电流小:对电子束照射后易损伤的试样,例如生物试样、快离子导体试样、玻璃等损伤小。

4.检测限一般为0.1%-0.5%,中等原子序数的无重叠峰主元素的定量相误差约为2%。

EDS能谱仪的分析方法:

1.点析法

电子束(探针)固定在试样感兴趣的点上,进行定性或定量分析。该方法准确度高,用于显微结构的成份分析,对低含量元素定量的试样,只能用点分析。


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2.线扫描分析

电子束沿一条分析线进行扫描时,能获得元素含量变化的线分布曲线。结果和试样形貌对照分析,能直观地获得元素再不同相或区域内的分布。


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3.面分布

电子束在试样表面扫描时,元素在试样表面的分布能在屏幕上以亮度(或彩色)分布显示出来(定性分析),亮度越亮,说明元素含量越高。研究材料中杂质、相的分布和元素偏析常用此方法。面分布常常与形貌对照分析。


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小结:1.点、线、面分析方法用途不同,检测灵敏度也不同;

2.定点分析灵敏度最高,面扫描分析灵敏度最低,但观察元素分布最直观。

3.实际操作中要根据试样特点及分析目的合理选择分析方法。

定量分析对试样的要求:

1.样品在真空和电子束轰击下要稳定;

2.高准确度的分析时,要求试样分析面平、垂直于入射电子束;

3.试样尺寸大于X射线扩展范围;

4.有良好的导电和导热性能;

5.均质、无污染。

EDS能谱仪常见测试问题及解决方法:

1. EDS测试的时候经常测到有碳(C),氧(O)或者是其他一些样品原本没有的元素,这是什么情况?

样品在存在,制样,转运的过程中和空气接触,样品表面会随机吸附空气中的一些低沸点VOC,包括烷烃类,芳烃类,烯烃类,卤烃类,酯类,醛类和酮类等物质,当吸附量达到EDS检测下限时候,就会被探测器检测到。我们最常见到的便是碳氧元素。

如果测到一些样品不该含有的金属元素,比如铝(Al),铜(Cu)等,我们就要考虑是否来自于测试的载具,有时候可能会由于样品太薄了,测试时候检测到了基底的元素。

如果测到一些稀土元素,比如镧(La),锕(Ac),则有可能是因为噪音的峰太强了,仪器出现一些误判,这种情况直接把此类元素删除即可。

如果测试含硫(S)的物质,出现钼(Mo),测试含铟(In)的物质,出现钾(K),测试含溴(Br)的物质,出现铝(Al)。此时我们要考虑是否是遇到了重叠峰的现象。这种情况是因为某些元素的某些线系临街激发能相差太小了,导致结果出现误判。解决方法是增加大加速电压(该元素临界激发能的2-3倍),激发某些元素在其他线系的能谱峰:如Al(K1.49)和Br(L1.48)接近,可以增大电压至30kV,通过Br(K11.9)的能谱峰判定是否有Br。


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. EDS采集能谱时,有时候会遇到能谱出峰很慢或无法出峰的情况,是什么原因导致的?

EDS采集能谱时,会遇到能谱出峰很慢或无法出峰的情况,原因可能是:

a.死时间过长。输入计数率会直接影响死时间的大小,计数率越高,死时间越高。

b.输入计数率过低。

一般可以采用以下解决方案:

a.工作距离:每台能谱仪都有特定的最佳工作距离,在不正确的工作距离下,计数率会比较低。

b.加速电压:应选择合适的加速电压,加速电压越低,获得的X射线的信号也就越少。

c.光阑的选择:大孔径光阑可以获得更多信号。

d.电子枪调整的情况:电子枪的对中、灯丝调整都会对信号产生影响。

e.样品状况:测试点前方较高阻挡了信号。

最后编辑于 2022-08-25 · 浏览 8395

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